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怎么解決影響涂鍍層測厚儀測量值的因素
日期：2025-08-01 02:15
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摘要：
影響涂鍍層測厚儀測量值的因素及解決方案
涂鍍層測厚儀與其他儀器一樣，使用涂層測厚儀需要儀器性能和測試條件。 使用磁原理和渦流原理的涂層測厚儀是基于被測基材的電磁特性和與探針的距離來測量涂層厚度。 因此，必須影響被測基板的電磁物理特性和物理尺寸。磁通量和渦流的大小。 這影響了測量值的可靠性，將介紹以下問題。
1.邊界距離如果探頭與被測物體的邊界，孔眼，空腔和其他橫截面之間的距離小于指定的邊界間隙，則測量誤差將由磁通量不足或渦流載流子橫截面引起 。 如果此時(shí)需要測量涂層厚度，則只能通過在相同條件下預(yù)先在未涂層表面上對其進(jìn)行校準(zhǔn)來進(jìn)行測量。 （注：*新產(chǎn)品通過疊加校準(zhǔn)具有獨(dú)特的功能，可以達(dá)到3％到10％的精度）
2.在直線比較樣品上將基材的表面曲率校準(zhǔn)為初始值，然后在測量涂層厚度后減去初始值。 或參考下一篇文章。
3.賤金屬的*小厚度賤金屬必須具有給定的*小厚度，以便探頭的電磁場可以完全包含在賤金屬中。 *小厚度與測量設(shè)備的性能以及金屬基底的特性有關(guān)。 進(jìn)行測量而不校正測量值。 對于襯底厚度不足的影響，可以采取措施將相同材料的一塊緊密粘附在襯底下面以消除它。 如果難以確定或無法添加基材，則可以通過與已知涂層厚度的樣品進(jìn)行比較來確定與額定值的差。 并在測量中考慮到這一點(diǎn)，并對測量值進(jìn)行相應(yīng)的校正或參考第2條進(jìn)行校正。 那些可以校準(zhǔn)的儀器可以通過調(diào)節(jié)旋鈕或按鈕來獲得準(zhǔn)確的直接讀數(shù)厚度值。 相反，如上所述，可以利用厚度過小的影響來開發(fā)用于直接測量銅箔的厚度的厚度計(jì)。
4.表面粗糙度和表面清潔度為了在粗糙表面上獲得代表性的平均測量值，需要進(jìn)行多次測量。 顯然，基材或涂層越粗糙，測量的可靠性就越差。 為了獲得可靠的數(shù)據(jù)，基底的平均粗糙度Ra應(yīng)小于涂層厚度的5％。 表面雜質(zhì)應(yīng)去除。 一些儀器具有消除這些“飛點(diǎn)”的上限和下限。
5.涂層材料中的鐵磁和導(dǎo)電成分涂層中某些鐵磁成分（例如顏料）的存在會影響測量值。 在這種情況下，用于校準(zhǔn)的比較樣品涂層應(yīng)具有與測試對象涂層相同的電磁性能，并應(yīng)在校準(zhǔn)后使用。 使用的方法可以是在鋁或銅板樣品上施加相同的涂層，并通過渦流法測試后獲得比較標(biāo)準(zhǔn)樣品。